鑑定規則基本理論
ü 中心限定主義:
專利文字敘述乃起碼的權力範圍,非用以確定專利技術之範圍,由此發展出"均等論"
ü 周邊限定主義:
申請人應具體的將專利範圍明確請求,由"全要件原則"來體現
ü 折衷主義:
以申請專利範圍內容來確認,說明書及圖式則用來解釋申請專利範圍
ü 構成要件分析法:
每一構成要件,都包含三種不同的技術要素,即"技術手段" "技術功能" "技術結果"
實務上採行侵害鑑定,可區分三階段
1.全要件原則(All Elements Rules)之判定
n 要件完全相等:包括文義和均等的表現
n 要件過剩:添加新組件或新步驟
n 要件欠缺:缺漏其中一項或若干要件
2.均等論(Doctrine of Equivalents)之判定
n 置換可能性:
兩要件以實質同一手段(way)發揮實質同一功能(function)來產生實質同一結果(results),則兩要件均等;專利要件和被控侵權物要件之差異是否具備"實質意義",如不具備則適用均等論 (逆均等論)
n 置換容易性:
以一般技術者之水準,以極簡易之不同方式取代原有之技術手段,以發揮不同之功能,但實質上產生同一結果,此迴避行為應屬無實質差異之等效替換,可認定屬惡意之失敗迴避
※ 置換可能性與置換容易性,不需要同時滿足,也就是雖不符合置換可能性,但滿足置換容易性之要求,原則上認可均等論之適用
※ 例如"螺絲釘"和"鉚釘",在置換容易性上滿足,但置換可能性上不滿足,判斷上是可適用於均等論的
n 假設性申請專利範圍:
以待鑑定對向進行"假設性"申請專利範圍,研判此與專利技術之比較後,是否具備"可專利性",如不具備,則待鑑定物應落於專利技術之領域
n 逆均等論:
如被控侵權物存在著"實質性之差異",則可依據"逆均等論"不構成專利侵權
3.禁止反言之判定
對於專利申請程序中,就專利範圍所做之說明、解釋或修正,不得為相反之主張或陳述
n 基於說明解釋之禁反言
n 基於修正之禁反言
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