鑑定規則基本理論

ü   中心限定主義:

專利文字敘述乃起碼的權力範圍,非用以確定專利技術之範圍,由此發展出"均等論"

 

ü   周邊限定主義:

申請人應具體的將專利範圍明確請求,"全要件原則"來體現

 

ü   折衷主義:

以申請專利範圍內容來確認,說明書及圖式則用來解釋申請專利範圍

 

ü   構成要件分析法:

每一構成要件,都包含三種不同的技術要素,即"技術手段" "技術功能" "技術結果"

 

實務上採行侵害鑑定,可區分三階段

 

1.全要件原則(All Elements Rules)之判定

 

n   要件完全相等:包括文義和均等的表現

 

n   要件過剩:添加新組件或新步驟

 

n   要件欠缺:缺漏其中一項或若干要件

 

2.均等論(Doctrine of Equivalents)之判定

 

n   置換可能性:

 

兩要件以實質同一手段(way)發揮實質同一功能(function)來產生實質同一結果(results),則兩要件均等;專利要件和被控侵權物要件之差異是否具備"實質意義",如不具備則適用均等論 (逆均等論)

 

n   置換容易性:

 

以一般技術者之水準,以極簡易之不同方式取代原有之技術手段,以發揮不同之功能,但實質上產生同一結果,此迴避行為應屬無實質差異之等效替換,可認定屬惡意之失敗迴避

 

    置換可能性與置換容易性,不需要同時滿足,也就是雖不符合置換可能性,但滿足置換容易性之要求,原則上認可均等論之適用

 

    例如"螺絲釘""鉚釘",在置換容易性上滿足,但置換可能性上不滿足,判斷上是可適用於均等論的

 

 

n   假設性申請專利範圍:

 

待鑑定對向進行"假設性"申請專利範圍,研判此與專利技術之比較後,是否具備"可專利性",如不具備,則待鑑定物應落於專利技術之領域

 

n   逆均等論:

 

如被控侵權物存在著"實質性之差異",則可依據"逆均等論"不構成專利侵權

 

3.禁止反言之判定

 

對於專利申請程序中,就專利範圍所做之說明、解釋或修正,不得為相反之主張或陳述

 

n   基於說明解釋之禁反言

 

n   基於修正之禁反言

 

 

專利鑑定流程圖  

 

 

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